Disable Preloader

Berita

16 Juni 2020

LIPI Karakterisasi Material Lanjut Gunakan TEM di Kolokium Fisika Daring

Serpong, Humas LIPI. Pusat Penelitian Fisika – Lembaga Ilmu Pengetahuan Indonesia (P2 Fisika – LIPI) menyelenggarakan Kolokium Fisika Daring dengan topik Karakterisasi Material Maju dengan Mikroskop Elektron Transmisi (TEM) oleh Fadli Rohman, Peneliti Fisika – LIPI, pada Selasa (16/6). Kolokium Fiska Daring ini diikuti oleh peserta dari peneliti, praktisi, hingga akademisi melalui media Webinar ZOOM dan Facebook Live.

Dalam presentasinya, Fadli Rohman menjelaskan bahwa nanoteknologi saat ini mulai diaplikasikan secara luas, baik di bidang telekomunikasi, energi, optika, elektronika, metalurgi, kedokteran, hingga transportasi. Nanoteknologi pada dasarnya terkait erat dengan sifat suatu material yang diharapkan dapat meningkatkan performanya saat diaplikasikan dalam teknologi tertentu. Pada baterai Li-ion misalnya, penerapan nanoteknologi dapat meningkatkan performa baterai dengan kapasitas yang lebih besar dari baterai konvensional.

Dalam proses pembuatan material untuk nanoteknologi ini, tentunya kita perlu menganalisis kualitas material hingga pada skala sub-nano sehingga mengetahui struktur atom penyusunnya. Oleh karenanya, kita membutuhkan peranti serta teknik yang dapat menganalisis material hingga skala sub-nano ini. Salah satu contoh alat yang dapat memenuhi kebutuhan ini adalah transmission electron microscope (TEM) atau mikroskop elektron transmisi.

TEM dapat digunakan untuk karakterisasi material dengan menggunakan elektron sebagai sumber radiasinya serta lensa elektromagnetik sebagai lensa di mikroskopnya. Penggunaan elektron ini dikarenakan elektron merupakan partikel bermuatan dan memiliki panjang gelombang yang sangat kecil sehingga dapat meningkatkan resolusi gambar yang dihasilkan. Selain itu, interaksi elektron dengan material menunjukkan beberapa fenomena atau signal yang dapat digunakan untuk menganalisa material, antara lain struktur kristal atau fasa, morfologi, serta komposisi unsur yang terkandung di dalam material tersebut.

Pemahaman mengenai teknik penggunaan dan konsep fisika TEM ini menjadi sangat penting karena terkait dengan data yang dihasilkan dari TEM sehingga dapat diinterpretasikan dengan benar. Untuk melakukan identifikasi fasa, teknik yang digunakan di TEM antara lain adalah dengan difraksi elektron serta high-resolution TEM. Untuk morfologi dari material, teknik yang dapat digunakan adalah salah satunya menggunakan bright-field atau dark-field scanning (S)TEM (kontras dihasilkan dari difraksi elektron). Untuk mengetahui unsur yang terkandung di material tersebut, teknik yang dapat digunakan adalah melalui kombinasi teknik high-angle annular dark-field (HAADF)-STEM imaging dengan energy dispersive X-ray (EDX) dan electron energy-loss (EEL) spectroscopy  Adapun bila kita menginginkan untuk menganalisa lebih detail sampai ke struktur atomnya, maka penggunaan teknik pada high-resolution TEM menjadi penting untuk dapat diimplementasikan. Akan tetapi, tentu saja, cacat-cacat pada lensa antara lain astigmatisme, spherical aberation dan chromatic aberation sebisa mungkin dapat diminimalisir sehingga resolusi gambarnya menjadi lebih baik.

Pengenalan-pengenalan teknik TEM di kolokium ini diharapkan dapat memberikan gambaran dan pemahaman kepada peserta kolokium terkait teknik tersebut sehingga dapat diimplementasikan untuk penelitian dengan baik dan benar. (har/ ed. adl)